19053605661
產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 其他檢測儀器 >
產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
超聲波探傷儀是一種便攜式工業(yè)無損探傷儀器，它能夠快速、便捷、無損傷精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、疏松、氣孔、夾雜等)的檢測、定位、評估和診斷。既可以用于實驗室，也可以用于工程檢測現(xiàn)場。廣泛應(yīng)用在鍋爐、壓力容器、航空、航天、電力、石油、化工、管道、軍工、船舶制造、汽車制造、機(jī)械加工、模具加工、冶金、金屬加工、鋼結(jié)構(gòu)、鐵路交通、核能電力、特檢系統(tǒng)、高等院校等行業(yè)。具有靈敏度高、穿透力強(qiáng)、檢測速度快
反射式光學(xué)膜厚儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測量設(shè)備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復(fù)測量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強(qiáng)，在振動或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。
非接觸式膜厚測量儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測量設(shè)備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復(fù)測量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強(qiáng)，在振動或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。
反射式膜厚測量儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測量設(shè)備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復(fù)測量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強(qiáng)，在振動或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。
光學(xué)膜厚儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測量設(shè)備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復(fù)測量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強(qiáng)，在振動或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。
反射膜厚測量儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測量設(shè)備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復(fù)測量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強(qiáng)，在振動或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。
掃碼加微信